ISO 22493:2014
Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь
Статус: Действует Дата введения в действие: 09.04.2014
| Обозначение | ISO 22493:2014 |
|---|---|
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary |
| Код КС (ОКС, МКС) | 01.040.37; 37.020 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 22493:2008 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 1 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 09.04.2014 |
| Количество страниц оригинала | 28 |
| Код цены | D |