JIS K 0153-2015
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | JIS K 0153-2015 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry |
| МКС | 71.040.50 |