ISO 14997:2017
Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов
Статус: Действует Дата введения в действие: 16.08.2017
| Обозначение | ISO 14997:2017 |
|---|---|
| Обозначение | ISO 14997:2017 |
| Статус | Действует |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Test methods for surface imperfections of optical elements |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Test methods for surface imperfections of optical elements |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 14997:2011 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 14997:2011 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 1 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 1 |
| Язык оригинала | английский |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 3 |
| Номер издания | 3 |
| Дата опубликования | 16.08.2017 |
| Дата опубликования | 16.08.2017 |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Аннотация (область применения) | В настоящем документе определены физические принципы и практические средства реализации методов контроля поверхностных дефектов. Для визуальных методов контроля видимости дефектов применяют два метода контроля. Первый – это визуальная оценка поверхности без какого-либо сравнения с артефактами специальных эталонов – метод (IVv). Второй, это визуальная оценка дефектов поверхности при сравнении с артефактами специальных эталонов известной яркости – метод (ISv). К методам определения размеров дефектов, относятся три метода. Первый – это визуальная оценка поверхности без сравнения со стандартными объектами - метод (IVD). Второй – это оценка размеров дефектов поверхности при сравнении с артефактами известного размера - метод (ISD). Третий – это измерение размеров дефекта поверхности с помощью увеличения и либо сравнение с артефактом известного размера, либо используя сетки или линейки - метод (IMD). Существуют приборы, позволяющие объективно измерять яркость (цифровое измерение интенсивности рассеянного света) или размер (цифровая микроскопия). Хотя эти инструменты могут быть использованы для оценки поверхностных дефектов, их описание и применение выходят за рамки настоящего документа. Этот документ применяется к оптическим поверхностям оптических компонентов или сборок, таких как дублеты или триплеты. Этот документ может быть применен к оптическим пластиковым компонентам; однако ударное повреждение на изделиях из пластмассовых материалов часто выглядит совсем иначе, чем на более твердых материалах, поскольку ударное воздействие не всегда приводит к удалению материала, но вместо этого может смещать материал, вызывая волнообразный дефект на поверхности. Следовательно, визуальное сравнение царапин и точек на пластике и на стекле или кристаллическом материале может дать очень разные результаты |
| Аннотация (область применения) | В настоящем документе определены физические принципы и практические средства реализации методов контроля поверхностных дефектов. Для визуальных методов контроля видимости дефектов применяют два метода контроля. Первый – это визуальная оценка поверхности без какого-либо сравнения с артефактами специальных эталонов – метод (IVv). Второй, это визуальная оценка дефектов поверхности при сравнении с артефактами специальных эталонов известной яркости – метод (ISv). К методам определения размеров дефектов, относятся три метода. Первый – это визуальная оценка поверхности без сравнения со стандартными объектами - метод (IVD). Второй – это оценка размеров дефектов поверхности при сравнении с артефактами известного размера - метод (ISD). Третий – это измерение размеров дефекта поверхности с помощью увеличения и либо сравнение с артефактом известного размера, либо используя сетки или линейки - метод (IMD). Существуют приборы, позволяющие объективно измерять яркость (цифровое измерение интенсивности рассеянного света) или размер (цифровая микроскопия). Хотя эти инструменты могут быть использованы для оценки поверхностных дефектов, их описание и применение выходят за рамки настоящего документа. Этот документ применяется к оптическим поверхностям оптических компонентов или сборок, таких как дублеты или триплеты. Этот документ может быть применен к оптическим пластиковым компонентам; однако ударное повреждение на изделиях из пластмассовых материалов часто выглядит совсем иначе, чем на более твердых материалах, поскольку ударное воздействие не всегда приводит к удалению материала, но вместо этого может смещать материал, вызывая волнообразный дефект на поверхности. Следовательно, визуальное сравнение царапин и точек на пластике и на стекле или кристаллическом материале может дать очень разные результаты |
| Количество страниц перевода | 21 |
| Количество страниц перевода | 21 |
| Код цены | C |
| Код цены | C |