ISO 29301:2017
Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой
Статус: Заменен Дата введения в действие: 06.12.2017
| Обозначение | ISO 29301:2017 |
|---|---|
| Обозначение | ISO 29301:2017 |
| Статус | Заменен |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой |
| Заглавие на русском языке | Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures |
| Дата отмены | 16.10.2023 01:00:00 |
| Дата отмены | 16.10.2023 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 29301:2010 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 29301:2010 |
| Обозначение заменяющего | ISO 29301:2023 |
| Обозначение заменяющего | ISO 29301:2023 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 |
| Язык оригинала | английский |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 06.12.2017 |
| Дата опубликования | 06.12.2017 |
| Количество страниц оригинала | 52 |
| Количество страниц оригинала | 52 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий документ устанавливает процедуру калибровки, применимую к изображениям, зарегистрированным в большом диапазоне увеличений в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Стандартные образцы, используемые для калибровки, обладают периодической структурой, как например, реплика дифракционной решетки, структура кристаллической решетки полупроводника или изображение кристаллической решетки углерода, золота или кремния. Настоящий документ применим к увеличению изображения ПЭМ, зарегистрированного на фотопленке или рентгенографической пластине, либо полученного с помощью датчика изображения, встроенного в цифровую камеру. Настоящий документ также относится к калибровке масштабной линейки. Настоящий документ не применим к специализированному измерению критического размера методом ПЭМ (CD-TEM) и к сканирующей просвечивающей микроскопии (СПЭМ). |
| Аннотация (область применения) | Настоящий документ устанавливает процедуру калибровки, применимую к изображениям, зарегистрированным в большом диапазоне увеличений в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Стандартные образцы, используемые для калибровки, обладают периодической структурой, как например, реплика дифракционной решетки, структура кристаллической решетки полупроводника или изображение кристаллической решетки углерода, золота или кремния. Настоящий документ применим к увеличению изображения ПЭМ, зарегистрированного на фотопленке или рентгенографической пластине, либо полученного с помощью датчика изображения, встроенного в цифровую камеру. Настоящий документ также относится к калибровке масштабной линейки. Настоящий документ не применим к специализированному измерению критического размера методом ПЭМ (CD-TEM) и к сканирующей просвечивающей микроскопии (СПЭМ). |
| Количество страниц перевода | 52 |
| Количество страниц перевода | 52 |
| Код цены | F |
| Код цены | F |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |