панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    ISO 29301:2017

    Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой

    Статус: Заменен   Дата введения в действие: 06.12.2017

    • Библиография

    Обозначение

    ISO 29301:2017

    Обозначение

    ISO 29301:2017

    Статус

    Заменен

    Статус

    Заменен

    Вид стандарта

    ST

    Вид стандарта

    ST

    Заглавие на русском языке

    Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой

    Заглавие на русском языке

    Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой

    Заглавие на английском языке

    Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

    Заглавие на английском языке

    Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

    Дата отмены

    16.10.2023 01:00:00

    Дата отмены

    16.10.2023 01:00:00

    Код КС (ОКС, МКС)

    37.020

    Код КС (ОКС, МКС)

    37.020

    Обозначение заменяемого(ых)

    ISO 29301:2010

    Обозначение заменяемого(ых)

    ISO 29301:2010

    Обозначение заменяющего

    ISO 29301:2023

    Обозначение заменяющего

    ISO 29301:2023

    ТК – разработчик стандарта

    TC 202/SC 3

    ТК – разработчик стандарта

    TC 202/SC 3

    Язык оригинала

    английский

    Язык оригинала

    английский

    Номер издания

    2

    Номер издания

    2

    Дата опубликования

    06.12.2017

    Дата опубликования

    06.12.2017

    Количество страниц оригинала

    52

    Количество страниц оригинала

    52

    Аннотация (область применения)

    Настоящий документ устанавливает процедуру калибровки, применимую к изображениям, зарегистрированным в большом диапазоне увеличений в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Стандартные образцы, используемые для калибровки, обладают периодической структурой, как например, реплика дифракционной решетки, структура кристаллической решетки полупроводника или изображение кристаллической решетки углерода, золота или кремния. Настоящий документ применим к увеличению изображения ПЭМ, зарегистрированного на фотопленке или рентгенографической пластине, либо полученного с помощью датчика изображения, встроенного в цифровую камеру. Настоящий документ также относится к калибровке масштабной линейки. Настоящий документ не применим к специализированному измерению критического размера методом ПЭМ (CD-TEM) и к сканирующей просвечивающей микроскопии (СПЭМ).

    Аннотация (область применения)

    Настоящий документ устанавливает процедуру калибровки, применимую к изображениям, зарегистрированным в большом диапазоне увеличений в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Стандартные образцы, используемые для калибровки, обладают периодической структурой, как например, реплика дифракционной решетки, структура кристаллической решетки полупроводника или изображение кристаллической решетки углерода, золота или кремния. Настоящий документ применим к увеличению изображения ПЭМ, зарегистрированного на фотопленке или рентгенографической пластине, либо полученного с помощью датчика изображения, встроенного в цифровую камеру. Настоящий документ также относится к калибровке масштабной линейки. Настоящий документ не применим к специализированному измерению критического размера методом ПЭМ (CD-TEM) и к сканирующей просвечивающей микроскопии (СПЭМ).

    Количество страниц перевода

    52

    Количество страниц перевода

    52

    Код цены

    F

    Код цены

    F

    Примечание

    Документ содержит цветные иллюстрации

    Примечание

    Документ содержит цветные иллюстрации



    Вернуться в Каталог ИСО — публикации Международной организации по стандартизации - ISO
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025