BS ISO 14701:2018 - TC
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS ISO 14701:2018 - TC |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness |
| Количество страниц оригинала | 54 |