BS ISO 14701:2018
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS ISO 14701:2018 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness |
| Количество страниц оригинала | 26 |
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS ISO 14701:2018 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness |
| Количество страниц оригинала | 26 |