BS EN 62374:2007
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS EN 62374:2007 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films |
| Количество страниц оригинала | 24 |
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS EN 62374:2007 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films |
| Количество страниц оригинала | 24 |