BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS EN IEC 60749-18:2019 - TC |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose) |
| Количество страниц оригинала | 54 |