BS EN 62374-1:2010
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS EN 62374-1:2010 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers |
| Количество страниц оригинала | 20 |
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS EN 62374-1:2010 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers |
| Количество страниц оригинала | 20 |