BS ISO 17470:2014
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | BS ISO 17470:2014 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry |
| Количество страниц оригинала | 22 |