ГОСТ Р 59743.2-2022
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.03.2023
Обозначение | ГОСТ Р 59743.2-2022 |
---|---|
Полное обозначение | ГОСТ Р 59743.2-2022 (ИСО 14880-2:2006) |
Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
Заглавие на английском языке | Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
Дата введения в действие | 01.03.2023 |
ОКС | 31.260 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз |
Ключевые слова | оптика и фотоника, матрица микролинз, методы измерений аберраций волнового фронта |
Термины и определения | Раздел стандарта |
Вид стандарта | Стандарты на продукцию (услуги) |
Содержит требования: ISO | ISO 14880-2:2006 |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ Р 8.745; ГОСТ Р 59743.1; ГОСТ Р ИСО 15367-2; |
Управление Ростехрегулирования | 1 - Управление технического регулирования и стандартизации |
Технический комитет России | 296 - Оптика и фотоника |
Дата последнего издания | 01.08.2022 |
Количество страниц (оригинала) | 28 |
Организация - Разработчик | Федеральное государственное унитарное предприятие «Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова» (ФГУП «НИИФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова») и Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Университет ИТМО» (Университет ИТМО) |
Статус | Действует |
Код цены | 3 |