ISO 5618-2:2024
Тонкая керамика (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN. Часть 2. Метод определения плотности ямок травления
Статус: Действует Дата введения в действие: 30.04.2024
| Обозначение | ISO 5618-2:2024 |
|---|---|
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Тонкая керамика (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN. Часть 2. Метод определения плотности ямок травления |
| Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for GaN crystal surface defects Part 2: Method for determining etch pit density |
| Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 206 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 30.04.2024 |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Код цены | D |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |