Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF C26-412-1972
Керамика на основе окиси берилия для колб электронных ламп и полупроводниковых приборов (содержание окиси берилия свыше 99%). Технические требованияBERYLLIUM OXIDE CERAMICS. (BERYLLIUM OXIDE CONTENT ABOVE 99 PER CENT) FOR ELECTRONIC TUBE BULBS AND SEMICONDUCTOR DEVICE CASES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-420-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для корпусов полупроводниковых приборов (Класс 1. Содержание глинозема свыше 99%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 1. ALUMINA CONTENT ABOVE 99 PER CENT) FOR SEMICONDUCTOR DEVICE CASES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-421-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для корпусов полупроводниковых приборов (Класс 2. Содержание глинозема 94-98%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 2. ALUMINA CONTENT 94 TO 98 PER CENT) FOR SEMICONDUCTOR DEVICE CASES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-422-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для корпусов полупроводниковых приборов (Класс 3. Содержание глинозема менее 93%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 3. ALUMINA CONTENT BELOW 93 PER CENT) FOR SEMICONDUCTOR DEVICE CASES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-430-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для изоляции оснований электронных микроструктур (Класс 1. Содержание глинозема свыше 99%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 1. ALUMINA CONTENT ABOVE 99 PER CENT) FOR INSULATING SUBSTRATES FOR ELECTRONIC MICROSTRUCTURES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-431-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для изоляции оснований электронных микроструктур (Класс 2. Содержание глинозема 94-98%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 2. ALUMINA CONTENT 94 TO 98 PER CENT) FOR INSULATING SUBSTRATES FOR ELECTRONIC MICROSTRUCTURES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-432-1971
Керамика из поликристаллического глинозема для изоляции оснований электронных микроструктур (Класс 3. Содержание глинозема менее 93%). Технические требованияPOLYCRYSTALLINE ALUMINA CERAMICS. (CLASS 3 - ALUMINA CONTENT BELOW 93 PER CENT) FOR INSULATING SUBSTRATES FOR ELECTRONIC MICROSTRUCTURES. SPECIFICATION.
Количество страниц: 4 Статус:
NF C26-433-1972
Керамика на основе окиси берилия для изоляции оснований электронных микроструктур (Содержание окиси берилия свыше 99%). Технические требованияBERYLLIUM OXIDE CERAMICS. (BERYLLIUM OXIDE CONTENT ABOVE 99 PER CENT) FOR INSULATING SUBSTATES FOR ELECTRONIC MICROSTRUCTURES. SPECIFICATION
Количество страниц: 4 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631