панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог DIN — национальные стандарты Германии

    我要找:

    найдено документов: 206 страниц: 11

    DIN EN 60749-35-2007

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006
    Количество страниц: 21 Статус:  

    DIN EN 60749-36-2003

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 36. Ускорение, устойчивое состояние
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); German version EN 60749-36:2003
    Количество страниц: 7 Статус:  

    DIN EN 60749-37-2008

    Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008
    Количество страниц: 22 Статус:  

    DIN EN 60749-38-2008

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
    Количество страниц: 14 Статус:  

    DIN EN 60749-39-2007

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (IEC 60749-39:2006); German version EN 60749-39:2006
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN EN 60749-40-2012

    Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011
    Количество страниц: 23 Статус:  

    DIN EN 60749-42-2015

    Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014); German version EN 60749-42:2014
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN EN 60749-43-2018

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017); German version EN 60749-43:2017
    Количество страниц: 40 Статус:  

    DIN EN 60749-44-2017

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016
    Количество страниц: 22 Статус:  

    DIN EN 60751-1996

    Термометры сопротивления промышленные платиновые
    Industrial platinum resistance thermometer sensors (IEC 60751:1983 + AMD 1:1986 + AMD 2:1995); German version EN 60751:1995 + A2:1995
    Количество страниц: 16 Статус:  

    DIN EN 60751-2009

    Термометры сопротивления промышленные платиновые
    Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors (IEC 60751:2008); German version EN 60751:2008
    Количество страниц: 24 Статус:  

    DIN EN 60756-1993

    Видеомагнитофоны невещательные. Стабильность временного масштаба
    Non-broadcast video recorders; time base stability (IEC 60756:1991); German version EN 60756:1993
    Количество страниц: 7 Статус:  

    DIN EN 60758-2005

    Кристалл синтетического кварца. Технические условия и руководство по использованию.
    Synthetic quartz crystal - Specifications and guide to the use (IEC 60758:2004); German version EN 60758:2005
    Количество страниц: 48 Статус:  

    DIN EN 60758-2009

    Кристалл синтетического кварца. Технические условия и руководство по использованию.
    Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use (IEC 60758:2008); German version EN 60758:2009
    Количество страниц: 50 Статус:  

    DIN EN 60758-2017

    Кристалл синтетического кварца. Технические условия и руководство по использованию
    Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use (IEC 60758:2016); German version EN 60758:2016
    Количество страниц: 61 Статус:  

    DIN EN 60770-1-1999

    Датчики для систем управления промышленными процессами. Часть 1. Методы оценки характеристик
    Transmitters for use in industrial-process control systems - Part 1: Methods for performance evaluation (IEC 60770-1:1999); German version EN 60770-1:1999
    Количество страниц: 18 Статус:  

    DIN EN 60770-2-2003

    Датчики, используемые в системах управления промышленными процессами. Часть 2: Руководство по контролю и типовым испытаниям
    Transmitters for use in industrial-process control systems - Part 2: Methods for inspection and routine testing (IEC 60770-2:2003); German version EN 60770-2:2003
    Количество страниц: 14 Статус:  

    DIN EN 60774-1-1994

    Видеомагнитофоны кассетные с наклонно-строчной записью, использующие магнитную ленту шириной 12,65 мм (0,5 дюйма) (формат VHS). Часть 1. Система VHS и компакт-диски VHS
    Helical-scan video tape cassette system using 12,65 mm (0,5 in) magnetic tape on type VHS - Part 1: VHS and compact VHS video cassette system (IEC 60774-1:1994); German version EN 60774-1:1994
    Количество страниц: 35 Статус:  

    DIN EN 60774-2-2000

    Видеомагнитофоны кассетные с наклонно-строчной записью, использующие магнитную ленту шириной 12,65 мм (0,5 дюйма), тип VHS. Часть 2. Звукозапись с частотной модуляцией
    Helical-scan video tape cassette system using 12,65 mm (0,5 in) magnetic tape on type VHS - Part 2: FM audio recording (IEC 60774-2:1999); German version EN 60774-2:2000
    Количество страниц: 9 Статус:  

    DIN EN 60774-3-1994

    Видеомагнитофоны кассетные с наклонно-строчной записью, использующие магнитную ленту шириной 12,65 мм (0,5 дюйма) (формат VHS). Часть 3. S-VHS
    Helical-scan video tape cassette system using 12,65 mm (0,5 in) magnetic tape on type VHS; part 3: S-VHS (IEC 60774-3:1993); German version EN 60774-3:1993
    Количество страниц: 12 Статус:  

    найдено документов: 206 страниц: 11


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • 1
    • 2
    • 3
    • 4
    • 5
    • 6
    • 7
    • 8
    • 9
    • 10
    • 11
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025