Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 83394 страниц: 4170
DIN 45939-1002*CECC 20002-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Диоды и матрицы диодов инфракрасного излучения. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrayss
Количество страниц: 18 Статус:
DIN 45939-1004*CECC 20004-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Оптроны, зависящие от окружающих условий. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: ambient rated photocouplers with phototransistor output
Количество страниц: 18 Статус:
DIN 45940-12*CECC 90200-1985
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Аналоговые интегральные схемы. Групповые технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; sectional specification: analogue monolithic integrated circuits
Количество страниц: 52 Статус:
DIN 45940-1101*CECC 90101-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы цифровые интегральные ТТL серий 54, 64, 74, 84. Серийные технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; family specification: digital integrated TTL-circuits, series 54, 64, 74, 84
Количество страниц: 23 Статус:
DIN 45940-1102*CECC 90102-1980
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы цифровые интегральные ТТL-Шоттки серий 54S, 64S, 74S, 84S. Серийные технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; family specification: digital integrated TTL-Schottky-circuits, series 54S, 64S, 74S, 84S
Количество страниц: 10 Статус:
DIN 45940-1103*CECC 90103-1985
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы цифровые интегральные Шоттки маломощные, построенные по принципу ТТL, серии 54LS; 64LS; 84LS. Серийные технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; family specification: digital integrated TTL-Low Power Schottky circuits; series 54 LS, 64 LS, 74 LS, 84 LS
Количество страниц: 26 Статус:
DIN 45940-1128*CECC 90105-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Кремниевые монолитные интегральные схемы биполярных программируемых постоянных запоминающих устройств. Типовая форма частных технических условийСогласованная система оценки качества электронных изделий. Кремниевые монолитные интегральные схемы биполярных программируемых постоянных запоминающих устройств. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification; fusible link programmable read only memories, silicon monolithic integrated circuits
Количество страниц: 26 Статус:
DIN 45940-1129*CECC 90110-1989
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Контуры цифровые интегральные с микропроцессором. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: digital microprocessor integrated circuits
Количество страниц: 32 Статус:
DIN 45940-1130*CECC 90113-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS ultra-violet light erasable electrically programmable read only memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 30 Статус:
DIN 45940-1131*CECC 90111-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые статической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 25 Статус:
DIN 45940-1132*CECC 90112-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/wirte dynamic memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 28 Статус:
DIN 45940-1203*CECC 90203-1987
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Аналоговые интегральные переключающие схемы. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification; integrated analogue switching circuits
Количество страниц: 17 Статус:
найдено документов: 83394 страниц: 4170