Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 330 страниц: 17
DIN 45940-1128*CECC 90105-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Кремниевые монолитные интегральные схемы биполярных программируемых постоянных запоминающих устройств. Типовая форма частных технических условийСогласованная система оценки качества электронных изделий. Кремниевые монолитные интегральные схемы биполярных программируемых постоянных запоминающих устройств. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification; fusible link programmable read only memories, silicon monolithic integrated circuits
Количество страниц: 26 Статус:
DIN 45940-1129*CECC 90110-1989
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Контуры цифровые интегральные с микропроцессором. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: digital microprocessor integrated circuits
Количество страниц: 32 Статус:
DIN 45940-1130*CECC 90113-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS ultra-violet light erasable electrically programmable read only memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 30 Статус:
DIN 45940-1131*CECC 90111-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые статической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 25 Статус:
DIN 45940-1132*CECC 90112-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/wirte dynamic memories silicon monolithic circuits
Количество страниц: 28 Статус:
DIN 45940-1203*CECC 90203-1987
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Аналоговые интегральные переключающие схемы. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification; integrated analogue switching circuits
Количество страниц: 17 Статус:
DIN 45940-1301*CECC 90301-1989
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Интегральные линейные передатчики и/или приемники. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: integrated line transmitters and/or receivers
Количество страниц: 26 Статус:
DIN 45940-1302*CECC 90302-1987
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Интегральные компараторы напряжения. Типовая форма технических условийHarmonized system of quality assessement for electronic components; blank detail specification: integrated voltage comparators
Количество страниц: 16 Статус:
DIN 45941-1*CECC 63000-1985
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы интегральные гибридные и пленочные. Общие технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; generic specification: film and hybrid integrated circuits
Количество страниц: 42 Статус:
DIN 45941-11*CECC 63200-1987
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Интегральные гибридные и пленочные схемы. Групповые технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; sectional specification: film and hybrid integrated circuits (capability approval)
Количество страниц: 90 Статус:
DIN 45941-1101*CECC 63201-1985
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы интегральные гибридные и пленочные. Подтверждение пригодности. Типовые формы частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: film and hybrid integrated circuits (capability approval)
Количество страниц: 9 Статус:
DIN 45953-2*CECC 50002-1977
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Сверхвысокочастотные транзисторы типа ВFУ 90. Частные технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components; detail specification: HF-transistor type BFY 90
Количество страниц: 6 Статус:
DIN 45956-1*CECC 50007-1976
Согласованная система оценки качества электронных изделий. Биполярные высокочастотные транзисторы, применяемые в зависимости от температуры корпуса. Типовая форма частных технических условийHarmonized system of quality assessment for electronic components; blanc detail specification: case-rated bipolar transistors for high frequency
Количество страниц: 14 Статус:
найдено документов: 330 страниц: 17