Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 66452 страниц: 3323
DIN EN 60747-16-3-2009
Приборы полупроводниковые. Часть 16-3. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Преобразователи частотыSemiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009); German version EN 60747-16-3:2002 + A1:2009
Количество страниц: 46 Статус:
DIN EN 60747-16-3-2018
Приборы полупроводниковые. Часть 16-3. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Преобразователи частотыSemiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); German version EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017
Количество страниц: 48 Статус:
DIN EN 60747-16-4-2018
Приборы полупроводниковые. Часть 16-4. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. ПереключателиSemiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009 + A2:2017); German version EN 60747-16-4:2004 + A1:2011 + A2:2017
Количество страниц: 31 Статус:
DIN EN 60747-16-5-2021
Приборы полупроводниковые. Часть 16-5. Интегральные схемы СВЧ-диапазона. Осцилляторы (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Немецкая версия EN 60747-16-5:2013 + A1:2020Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); German version EN 60747-16-5:2013 + A1:2020
Количество страниц: 44 Статус:
DIN EN 60747-16-10-2005
Приборы полупроводниковые. Часть 16-10. Технологический график премки монолитных интегральных схемSemiconductor devices - Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits (IEC 60747-16-10:2004); German version EN 60747-16-10:2004
Количество страниц: 56 Статус:
DIN EN 60749-2002
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001
Количество страниц: 74 Статус:
DIN EN 60749-2-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давлениеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002
Количество страниц: 8 Статус:
DIN EN 60749-3-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотрSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002
Количество страниц: 5 Статус:
DIN EN 60749-3-2018
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотрSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017
Количество страниц: 14 Статус:
DIN EN 60749-4-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
Количество страниц: 9 Статус:
DIN EN 60749-4-2017
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017); German version EN 60749-4:2017
Количество страниц: 12 Статус:
DIN EN 60749-5-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
Количество страниц: 10 Статус:
DIN EN 60749-5-2018
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Температурные испытания на долговечность с изменением параметров влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017
Количество страниц: 11 Статус:
DIN EN 60749-6-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуреSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
Количество страниц: 7 Статус:
DIN EN 60749-6-2017
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуреSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017
Количество страниц: 9 Статус:
найдено документов: 66452 страниц: 3323