панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог DIN — национальные стандарты Германии

    我要找:

    найдено документов: 66452 страниц: 3323

    DIN 45923-114*CECC 42101-803-1982

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Варисторы низкого напряжения, применяемые в телефонии, дисковой формы с присоединительными проводами лаковым покрытием на 0,1 ВТ. (Уровень оценки качества Р). Частные технические условия
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; detail specification: low voltage varistors primarily for telephony applications; disc type, with unidiretional wire terminations: protected 0,1 W: assessment level P
    Количество страниц: 9 Статус:  

    DIN 45924-1*CECC 43000-1982

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Терморезисторы с прямым нагревом, отрицательным температурным коэффициентом NТС-D (горячий проводник). Групповые технические условия
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; generic specification; thermistors
    Количество страниц: 40 Статус:  

    DIN 45924-101*CECC 43001-1984

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Терморезисторы с прямым нагревом и отрицательным температурным коэффициентом (бусины в оболочке из твердого стекла или фарфоровой эмали). Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: directly heated negative temperature coefficient thermistors (beads in solid glass or vitreous enamel)
    Количество страниц: 12 Статус:  

    DIN 45924-102*CECC 43002-1984

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Терморезисторы с прямым нагревом и отрицательным температурным коэффициентом (бусины в оболочке). Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: directly heated negative temperature coefficient thermistors (beads in envelopes)
    Количество страниц: 12 Статус:  

    DIN 45924-103*CECC 43003-1984

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Терморезисторы с прямым нагревом и отрицательным температурным коэффициентом (дисковая форма). Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: directly heated negative temperature coefficient thermistors (disc type)
    Количество страниц: 12 Статус:  

    DIN 45924-104*CECC 43004-1984

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Терморезисторы с прямым нагревом и отрицательным температурным коэффициентом (стержневая форма). Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: directly heated negative temperature coefficient thermistors (rod type)
    Количество страниц: 12 Статус:  

    DIN 45930-1*CECC 50000-1982


    Harmonized system of quality assessment for electronic components: discrete semiconductor devices
    Количество страниц: 72 Статус:  

    DIN 45930-102*CECC 50001-046-1980

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Диоды ВАW-76. Частные технические условия
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; detail specification, diode BAW 76
    Количество страниц: 6 Статус:  

    DIN 45930-107*CECC 50003-1982

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Биполярные транзисторы с установленной температурой корпуса для усиления на низкой частоте. Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification; case-rated bipolar transistors for low frequency amplification
    Количество страниц: 15 Статус:  

    DIN 45930-1012*CECC 50012-1978


    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: single gate field-effect transistors
    Количество страниц: 62 Статус:  

    DIN 45930-1021*CECC 50008-1979


    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: ambient rated rectifier diodes
    Количество страниц: 8 Статус:  

    DIN 45930-1021*CECC 50008-1983


    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: ambient rated rectifier diodes
    Количество страниц: 9 Статус:  

    DIN 45930-1022*CECC 50010-1983

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Тиристоры для заданных условий окружающей среды. Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: ambient rated thyristors
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN 45930-1023*CECC 50012-1983

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Полевые транзисторы с затвором. Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: single gate field-effect transistors
    Количество страниц: 62 Статус:  

    DIN 45930-1027*CECC 50013-1985

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Стабилизаторы тока и опорные диоды. Типовая форма частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: current regulator and current reference diodes
    Количество страниц: 9 Статус:  

    DIN 45939-1001*CECC 20001-1987


    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: light emitting diodes, light emitting diode arrays
    Количество страниц: 12 Статус:  

    DIN 45939-1002*CECC 20002-1988

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Диоды и матрицы диодов инфракрасного излучения. Типовые формы частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrayss
    Количество страниц: 18 Статус:  

    DIN 45939-1004*CECC 20004-1987

    Согласованная система оценки качества электронных изделий. Оптроны, зависящие от окружающих условий. Типовые формы частных технических условий
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: ambient rated photocouplers with phototransistor output
    Количество страниц: 18 Статус:  

    DIN 45940-1*CECC 90000-1982


    Harmonised system of quality assessment for electronic components; monolithic integrated circuits
    Количество страниц: 37 Статус:  

    DIN 45940-12*CECC 90200-1985

    Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Аналоговые интегральные схемы. Групповые технические условия
    Harmonized system of quality assessment for electronic components; sectional specification: analogue monolithic integrated circuits
    Количество страниц: 52 Статус:  

    найдено документов: 66452 страниц: 3323


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 840
    • 841
    • 842
    • 843
    • 844
    • 845
    • 846
    • 847
    • 848
    • 849
    • 850
    • 851
    • 852
    • 853
    • 854
    • 855
    • 856
    • 857
    • 858
    • 859
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025