панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог DIN — национальные стандарты Германии

    我要找:

    найдено документов: 22 страниц: 2

    DIN 5044-1-1981

    Освещение автомобильных трасс. Общие показатели качества и ориентировочные значения
    Stationary traffic lighting; street lighting for automobile traffic
    Количество страниц: 14 Статус:  

    DIN 5044-2-1982

    Освещение автомобильных трасс. Расчеты и измерения
    Stationary traffic lighting; street lighting for automobile traffic; calculation and measurement
    Количество страниц: 11 Статус:  

    DIN 50440-1998

    Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости
    Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method
    Количество страниц: 8 Статус:  

    DIN 50440-1-1981

    Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости
    Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens
    Количество страниц: 5 Статус:  

    DIN 50441-1-1981


    Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness
    Количество страниц: 2 Статус:  

    DIN 50441-1-1996

    Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 1. Толщина и ее изменение
    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation
    Количество страниц: 4 Статус:  

    DIN 50441-2-1982

    Диски полупроводниковые. Определение закругления кромки
    Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; testing of edge rounding
    Количество страниц: 2 Статус:  

    DIN 50441-2-1998

    Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 2. Определение закругления кромки
    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 2: Testing of edge profile
    Количество страниц: 5 Статус:  

    DIN 50441-3-1985

    Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Определение отклонения от плоскостности полированных пластин методом многолучевой интерференции
    Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; determination of flatness deviation of polished slices by means of the multiple beam interference
    Количество страниц: 5 Статус:  

    DIN 50441-4-1987

    Диски полупроводниковые. Измерение диаметра и толщины
    Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; diameter and flat depth of slices
    Количество страниц: 4 Статус:  

    DIN 50441-4-1999

    Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 4. Определение диаметра, отклонений диаметра, диаметра, длины и высоты плоского среза
    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 4: Slice diameter, diamter variation, flat diameter, flat length, flat depth
    Количество страниц: 8 Статус:  

    DIN 50441-5-1998


    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN 50441-5-2001

    Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров.Часть 5. Термины, касающиеся отклонения от формы и плоскостности
    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation
    Количество страниц: 11 Статус:  

    DIN 50442-1-1981

    Пластины полупроводниковые монокристаллические, распиленные и подвергнутые доводке. Определение структуры поверхности
    Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
    Количество страниц: 3 Статус:  

    DIN 50443-1-1988

    Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии
    Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN 50443-2-1994

    Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии
    Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
    Количество страниц: 7 Статус:  

    DIN 50445-1992

    Пластины полупроводниковые гомогенные, легированные примесью. Бесконтактный метод определения удельного электрического сопротивления с помощью вихревых токов
    Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers
    Количество страниц: 4 Статус:  

    DIN 50446-1995

    Материалы для полупроводниковой технологии. Определение типов и плотности дефектов в эпитаксиальных слоях кремния
    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers
    Количество страниц: 10 Статус:  

    DIN 50447-1995

    Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение электрического поверхностного сопротивления полупроводниковых слоев методом вихревых токов
    Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method
    Количество страниц: 2 Статус:  

    DIN 50448-1998

    Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом
    Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulation semiconductor slices using a capacitive probe
    Количество страниц: 3 Статус:  

    найдено документов: 22 страниц: 2


    • 1
    • 2
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025