Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 2 страниц: 1
DIN 50443-1-1988
Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографииTesting of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography
Количество страниц: 10 Статус:
DIN 50443-2-1994
Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографииTesting of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
Количество страниц: 7 Статус:
найдено документов: 2 страниц: 1
- 1