Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 2 страниц: 1
DIN 50455-1-1991
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Определение толщины покрытия оптическими методамиTesting of materials for semiconductor technology; methods for characterizing photoresists; determination of coating thickness with optical methods
Количество страниц: 3 Статус:
DIN 50455-1-2009
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методамиTesting of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods
Количество страниц: 8 Статус:
найдено документов: 2 страниц: 1
- 1