Каталог JIS — национальные стандарты Японии
найдено документов: 21301 страниц: 1066
JIS Z 4330-2008
Методы химического анализа припояMethods for chemical analysis of solder
Количество страниц: Статус:
JIS Z 4331-95
Дозиметры индивидуальные для контроля рентгеновских и гамма излучений. Калибровочный фантомКоличество страниц: Статус:
JIS Z 4334-2005
Эталонные источники для калибровки датчиков загрязнения поверхности. Бета излучатели (максимум бета энергии больше 15 МеV) и альфа излучателиReference sources for the calibration of surface contamination monitors - Beta- emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha- emitters
Количество страниц: Статус:
JIS Z 4337-97
Installed articles surface contamination monitoring assemblies for beta emitters
Количество страниц: Статус:
JIS Z 4337-2011
Installed articles surface contamination monitoring assemblies for beta emitters
Количество страниц: Статус:
найдено документов: 21301 страниц: 1066