панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции

    我要找:

    найдено документов: 72612 страниц: 3631

    NF EN 62047-5-2012

    Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5 : RF MEMS switches
    Количество страниц: 39 Статус:  

    NF EN 62047-6-2010

    Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
    Количество страниц: 19 Статус:  

    NF EN 62047-9-2012

    Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпленочного соединения для MEMS
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9 : wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
    Количество страниц: 29 Статус:  

    NF EN 62047-10-2012

    Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро-колонн для материалов MEMS
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10 : micro-pillar compression test for MEMS materials
    Количество страниц: 15 Статус:  

    NF EN 62047-11-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 11. Метод испытания на коэффициенты линейного теплового расширения автономного материала для микроэлектромеханических систем
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11 : test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
    Количество страниц: 23 Статус:  

    NF EN 62047-13-2012

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13 : bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strenght for MEMS structures
    Количество страниц: 21 Статус:  

    NF EN 62047-14-2012

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14 : forming limit measuring method of metallic film materials
    Количество страниц: 21 Статус:  

    NF EN 62047-15-2015

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15 : test method of bonding strength between PDMS and glass
    Количество страниц: 16 Статус:  

    NF EN 62047-16-2015

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16 : test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
    Количество страниц: 15 Статус:  

    NF EN 62047-17-2015

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17 : bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
    Количество страниц: 32 Статус:  

    NF EN 62047-18-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 : bend testing methods of thin film materials
    Количество страниц: 18 Статус:  

    NF EN 62047-19-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19 : electronic compasses
    Количество страниц: 32 Статус:  

    NF EN 62047-20-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20 : gyroscopes
    Количество страниц: 61 Статус:  

    NF EN 62047-21-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод испытания коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21 : test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
    Количество страниц: 18 Статус:  

    NF EN 62047-22-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Электромеханический метод испытания на растяжение для проводящих тонких пленок на гибких подложках
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 : electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
    Количество страниц: 18 Статус:  

    NF EN 62047-26-2016

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 : description and measurement methods for micro trench and needle structures
    Количество страниц: 32 Статус:  

    NF EN 62052-11-2003

    Оборудование для электрических измерений (переменный ток). Общие требования, испытания и условия испытаний. Часть 11. Измерительное оборудование
    Electricity metering equipment (AC) - General requirements, tests and test conditions - Part 11 : metering equipment.
    Количество страниц: 50 Статус:  

    NF EN 62052-21-2006

    Оборудование для измерения энергопотребления (переменный ток). Общие требования, испытания и условия испытаний. Часть 21. Оборудование для установки тарифов и регулирования нагрузки
    Electricity metering equipment (a.c.) - General requirements, tests and test conditions - Part 21 : tariff and load control equipment.
    Количество страниц: 102 Статус:  

    NF EN 62053-11-2003

    Оборудование для электрических измерений (переменный ток). Часть 11. Электромеханические счетчики активной энергии, ватт-часов (классы 0,5, 1 и 2)
    Electricity metering equipment (a.c.) - Particular requirements - Part 11 : electromechanical meters for active energy (classes 0, 5, 1 and 2).
    Количество страниц: 20 Статус:  

    NF EN 62053-21-2003

    Оборудование для электрических измерений (переменный ток). Часть 21. Статические счетчики активной энергии, ватт-часов (классы 1 и 2)
    Electricity metering equipment (a.c.) - Particular requirements - Part 21 : static meters for active energy (classes 1 and 2).
    Количество страниц: 20 Статус:  

    найдено документов: 72612 страниц: 3631


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 1901
    • 1902
    • 1903
    • 1904
    • 1905
    • 1906
    • 1907
    • 1908
    • 1909
    • 1910
    • 1911
    • 1912
    • 1913
    • 1914
    • 1915
    • 1916
    • 1917
    • 1918
    • 1919
    • 1920
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2026