панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции

    我要找:

    найдено документов: 72612 страниц: 3631

    UTE C96-004-2004

    Аудит для управления устаревающими процессами
    Audit for obsolescence management.
    Количество страниц: 9 Статус:  

    UTE C96-004-2005

    Аудит для управления устаревающими процессами
    Audit for obsolescence management.
    Количество страниц: 13 Статус:  

    UTE C96-004-2008

    Аудит для управления устаревающими процессами
    Audit for obsolescence management.
    Количество страниц: 18 Статус:  

    UTE C96-009-1989

    Приборы прлупроводниковые. Механические и климатические испытания
    ELECTRONIC COMPONENTS. SEMICONDUCTOR DEVICES. MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS.
    Количество страниц: 29 Статус:  

    UTE C96-010-1989

    Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные устройства и интегральные схемы
    ELECTRONIC COMPONENTS. SEMICONDUCTOR DEVICES. PART 10 : GENERIC SPECIFICATION FOR DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS.
    Количество страниц: 28 Статус:  

    UTE C96-011-1989

    Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные устройства
    ELECTRONIC COMPONENTS. SEMICONDUCTOR DEVICES. PART 11 : SECTIONAL SPECIFICATION FOR DISCRETE DEVICES.
    Количество страниц: 18 Статус:  

    UTE C96-020-1972

    Микроструктуры. Общие положения, размерные характеристики и требования к корпусам
    Microcircuits. General requirements and dimensional characteristics.
    Количество страниц: 20 Статус:  

    UTE C96-020/A1-1973

    Микроструктуры. Общие положения, размерные характеристики и требования к корпусам. Изменение 1
    Microcircuits. General requirements and dimensional characteristics. Amendment 1
    Количество страниц: 21 Статус:  

    UTE C96-020/A2-1973

    Микроструктуры. Общие положения, размерные характеристики и требования к корпусам. Изменение 2
    Microcircuits. General requirements and dimensional characteristics. Amendment 2
    Количество страниц: 23 Статус:  

    UTE C96-020/A3-1974

    Микроструктуры. Общие положения, размерные характеристики и требования к корпусам. Изменение 3
    Microcircuits. General requirements and dimensional characteristics. Amendment 3
    Количество страниц: 21 Статус:  

    UTE C96-022-1996


    Microcircuits. Generic qualification for integrated hybrid circuits. Manufacturer approval and TQM concept (HQML).
    Количество страниц: 65 Статус:  

    UTE C96-023-1990

    Микросхемы. Метод технологического анализа отказов
    Microcircuits. Methodology for technology and failure analysis.
    Количество страниц: 10 Статус:  

    UTE C96-024-1990

    Микросхемы. Упрощенные термические модели монолитных интегральных схем
    Microcircuits. Thermal modelisation of monolithic integrated circuits.
    Количество страниц: 9 Статус:  

    UTE C 96-025-1991


    MICROCIRCUITS. GENERIC QUALIFICATION FOR ASICS AND ICS. MANUFACTURER APPROVAL AND TQM CONCEPT (EQML).
    Количество страниц: Статус:  

    UTE C96-025-1993

    Схемы интегральные и ASIC. Утверждение изготовителя и концепция общего качества (EQML)
    Microcircuits. Generic qualification for ASICs and ICs. Manufacturer approval and tqm concept (EQML).
    Количество страниц: 102 Статус:  

    UTE C96-026-1992

    Микросхемы. Указания по составлению руководства о возможностях интегральных схем
    Microcircuits. Guide to drafting a capability manual. Integrated circuits.
    Количество страниц: 44 Статус:  

    UTE C96-027-1998

    Полупроводниковые приборы. Правила, касающихся менеджмента непрерывности продукции и замены (уничтожения электрических компонентов). Временные правила
    Semiconductor devices. Rules concerning the management of product discontinuance and replacement (obsolescence of electronic components). Provisional rules.
    Количество страниц: 5 Статус:  

    UTE C96-028-1998

    Полупроводниковые приборы. Процедуры утверждения производственной линии и руководство для утверждения QML
    Semiconductor devices. Procedures for manufacturing line approval and finality management and guidance for QML approval achievement.
    Количество страниц: 25 Статус:  

    UTE C96-029-2000

    Компоненты электронные. Долгосрочное хранения электронных компонентов. Руководство по выполнению
    Electronic components. Long duration storage of electronic components. Guide for implementation
    Количество страниц: 37 Статус:  

    UTE C96-030-1988

    Микросхемы. Схема и процедура согласования программ испытаний, связанных с частными техническими условиями на интегральные схемы
    Microcircuits. Approval structure of the testing plans associated with particular specifications for integrated circuits VLSI and relevant procedure.
    Количество страниц: 11 Статус:  

    найдено документов: 72612 страниц: 3631


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 3501
    • 3502
    • 3503
    • 3504
    • 3505
    • 3506
    • 3507
    • 3508
    • 3509
    • 3510
    • 3511
    • 3512
    • 3513
    • 3514
    • 3515
    • 3516
    • 3517
    • 3518
    • 3519
    • 3520
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025