Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF C86-501-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Светодиоды и схемы со светодиодами. Форма представления специальных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. LIGHT EMITTING DIODES,LIGHT EMITTING DIODE ARRAYS.
Количество страниц: 13 Статус:
NF C86-502-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Инфракрасные светодиоды и схемы с инфракрасными светодиодами. Форма представления специальных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. INFRARED EMITTING DIODES,INFRARED EMITTING DIODES ARRAYS.
Количество страниц: 14 Статус:
NF C86-503-1986
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Фототранзисторы, транзисторы дарлингтона и схемы с фототранзисторами. Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. PHOTOTRANSISTORS,PHOTODARLINGTON TRANSISTORS AND PHOTOTRASISTOR-ARRAYS. BLANK DETAIL SPECIFICATION CECC 20 003.
Количество страниц: 11 Статус:
NF C86-504-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пары оптронные с нормированием температуры окружающей среды и выходным фототранзистором. Типовая форма частных ТУSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. AMBIENT RATED PHOTOCOUPLERS WITH PHOTOTRANSISTOR OUTPUT. BLANK DETAIL SPECIFICATION. SPECIFICATION CECC 20 004.
Количество страниц: 17 Статус:
NF C86-505-1986
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Ротодиоды и схемы с ротодиодами. Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. PHOTODIODES. PHOTODIODES-ARRAYS. BLANK DETAIL SPECIFICATION CECC 20 005.
Количество страниц: 11 Статус:
NF C86-506-1986
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Фотодиоды со структурой Р-I-N для световолокон. Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS PIN-PHOTODIODES FOR FIBRE OPTIC APPLICATIONS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 20 006).
Количество страниц: 11 Статус:
NF C86-507-1994
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Дисплеи на жидких кристаллах (LCD) монохромные без электронных схем. Частная форма технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. LIQUID CRYSTAL DISPLAYS. MONOCHROME LCDS WITHOUT ELECTRONIC CIRCUIT. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 20 007).
Количество страниц: 12 Статус:
NF C86-612-1976
Гармонизированная система оценки качесива электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на биполярные транзисторы для усиления, рассчитанные на температуру окружающей средыHARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : AMBIENT-RATED BIPOLAR TRANSISTORS FOR AMPLIFICATION.
Количество страниц: Статус:
NF C86-612/A1-1981
Гармонизированная система оценки качесива электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на биполярные транзисторы для усиления, рассчитанные на температуру окружающей среды. Изменение 1HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : AMBIENT-RATED BIPOLAR TRANSISTORS FOR AMPLIFICATION. AMENDMENT 1
Количество страниц: Статус:
NF C86-612/A2-1987
Гармонизированная система оценки качесива электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на биполярные транзисторы для усиления, рассчитанные на температуру окружающей среды. Изменение 2HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : AMBIENT-RATED BIPOLAR TRANSISTORS FOR AMPLIFICATION. AMENDMENT 2
Количество страниц: Статус:
NF C86-613-1976
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Биполярные транзисторы с регулируемой температурой корпуса, предназначенные для усиления на низких частотах. Форма представления специальных технических условийHarmonised system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for low frequency application.
Количество страниц: 16 Статус:
NF C86-613-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Биполярные транзисторы с регулируемой температурой корпуса, предназначенные для усиления на низких частотах. Форма представления специальных технических условийHarmonised system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : case-rated bipolar transistors for low frequency application.
Количество страниц: 3 Статус:
NF C86-613/A1-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Биполярные транзисторы с регулируемой температурой корпуса, предназначенные для усиления на низких частотах. Форма представления специальных технических условий. Изменение 1Harmonised system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : case-rated bipolar transistors for low frequency application. Amendment 1
Количество страниц: 2 Статус:
NF C86-614-1976
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Биполярные ключевые транзисторы. Форма представления специальных технических условийHARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. BIPOLAR TRANSISTORS FOR SWITCHING APPLICATIONS.
Количество страниц: 12 Статус:
NF C86-614/A1-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Биполярные ключевые транзисторы. Форма представления специальных технических условий. Изменение 1HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. BIPOLAR TRANSISTORS FOR SWITCHING APPLICATIONS. AMENDMENT 1
Количество страниц: 3 Статус:
NF C86-617-1977
Транзисторы биполярные с постоянной температурой корпуса для В4-усиления. Бланки технических требований по системе оценки качества СЕNЕLЕСHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. CASE-RATED BIPOLAR TRANSISTORS FOR HIGH FREQUENCY APPLICATION
Количество страниц: 17 Статус:
NF C86-617-1981
Транзисторы биполярные с постоянной температурой корпуса для В4-усиления. Бланки технических требований по системе оценки качества СЕNЕLЕСHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. CASE-RATED BIPOLAR TRANSISTORS FOR HIGH FREQUENCY APPLICATION.
Количество страниц: 17 Статус:
NF C86-617/A1-1981
Транзисторы биполярные с постоянной температурой корпуса для В4-усиления. Бланки технических требований по системе оценки качества СЕNЕLЕС. Изменение 1Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for high frequency application. Amendment 1
Количество страниц: 2 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631