Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF C85-213-1982
Единая система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Мощные электронные лампы с дисковыми выводами и управляемым пространственным зарядом. Форма представления специальных технических требованийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. DISK SEAL POWER TUBES.
Количество страниц: 11 Статус:
NF C86-010-1986
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковые дискретные приборы. Общие технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 50 000).
Количество страниц: 73 Статус:
NF C86-010/A1-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковые дискретные приборы. Общие технические условия. Изменение 1SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 50 000). AMENDMENT 1
Количество страниц: 30 Статус:
NF C86-010/A2-1989
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковые дискретные приборы. Общие технические условия. Изменение 2SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 50 000). AMENDMENT 2
Количество страниц: 18 Статус:
NF C86-020-1985
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковая интегральная микросхема. Общие технические условияHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 90000).
Количество страниц: 77 Статус:
NF C86-020-1-1991
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов СЕNЕLЕС. Полупроводниковые интегральные микросхемы. Общие технические условия. Часть 1HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. PART 1. (SPECIFICATION CECC 90 000).
Количество страниц: 75 Статус:
NF C86-020-2-1991
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов СЕNЕLЕС. Полупроводниковые интегральные микросхемы. Общие технические условия. Часть 2HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. PART 2. (SPECIFICATION CECC 90 000).
Количество страниц: 74 Статус:
NF C86-020/A1-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковая интегральная микросхема. Общие технические условия. Изменение 1HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 90000). AMENDMENT 1
Количество страниц: 22 Статус:
NF C86-100-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Интегральные монолитные аналоговые схемы. Групповые технические условияHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. ANALOGUE MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS. SECTIONAL SPECIFICATION. (CECC 90 200).
Количество страниц: 64 Статус:
NF C86-111-1990
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов СЕNЕLЕС. Типовая форма частных технических условий на встроенные операционные усилителиHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS INTEGRATED OPERATIONAL AMPLIFIERS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 202).
Количество страниц: 22 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631