Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF C86-712-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Полевые транзисторы с затвором. Форма представления специальных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. SINGLE GATE FIELD-EFFECT TRANSISTORS.
Количество страниц: 67 Статус:
NF C86-712/A1-1981
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на полевые транзисторы с затвором. Изменение 1HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. SINGLE GATE FIELD-EFFECT TRANSISTORS. AMENDMENT 1
Количество страниц: 2 Статус:
NF C86-712/A2-1987
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на полевые транзисторы с затвором. Изменение 2HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. SINGLE GATE FIELD-EFFECT TRANSISTORS. AMENDMENT 2
Количество страниц: 1 Статус:
NF C86-811-1983
Единая система оценки качества электронных изделий. Форма представления частных технических требований. Тиристоры с заданной температурой корпусаHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. CASE-RATED THYRISTORS.
Количество страниц: 14 Статус:
NF C86-812-1981
Единая система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Диоды полупроводниковые общего назначения сигнальные или переключательные. Форма представления специальных технических требованийHARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : GENERAL PURPOSE SIGNAL AND/OR SWITCHING SEMICONDUCTOR DIODES
Количество страниц: 8 Статус:
NF C86-812/A1-1987
Гармонизированная система оценки качесива электронных компонентов.Типовая форма частных технических условий на сигнальные и/или переключающие полупроводниковые диоды общего назначения. Изменение 1HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : GENERAL PURPOSE SIGNAL AND/OR SWITCHING SEMICONDUCTOR DIODES. AMENDMENT 1
Количество страниц: 1 Статус:
NF C86-815-1975
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Диоды автоматической регулировки напряжения и опорные диоды. Форма представления специальных технических условийHARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : VOLTAGE REGULATOR DIODES AND VOLTAGE REFERENCE DIODES.
Количество страниц: 17 Статус:
NF C86-815/A1-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Диоды автоматической регулировки напряжения и опорные диоды. Форма представления специальных технических условий. Изменение 1HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : VOLTAGE REGULATOR DIODES AND VOLTAGE REFERENCE DIODES. AMENDMENT 1
Количество страниц: Статус:
NF C86-815/A2-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Диоды автоматической регулировки напряжения и опорные диоды. Форма представления специальных технических условий. Изменение 2HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : VOLTAGE REGULATOR DIODES AND VOLTAGE REFERENCE DIODES. AMENDMENT 2
Количество страниц: Статус:
NF C86-816/A1-1981
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENEKEC. Параметрические представления специальных технических условий. Изменение 1HARMONISED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. BLANK DETAIL SPECIFICATION : VARIABLE CAPACITANCE DIODES. AMENDMENT 1
Количество страниц: Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631