Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF C86-251-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Программированное постоянное биполярное запоминающее устройство. Типовая форма частных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FUSIBLE LINK PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORIES. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 105).
Количество страниц: 27 Статус:
NF C86-252-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Постоянное запоминающее устройство на МОП-схемах С ультрафиолетовым стиранием и электрическим программированием. Типовая форма частных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MOS ULTRA-VIOLET LIGHT ERASABLE ELECTRICALLY PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORIES SILICON MONOLITHIC CIRCUITS BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 113).
Количество страниц: 24 Статус:
NF C86-253-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Динамическое запоминающее устройство с оперативной записью и считыванием на интегральных микросхемах МОП. Типовая форма частных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MOS READ/WRITE DYNAMIC MEMORIES SILICON MONOLITHIC CIRCUITS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. ( SPECIFICATION CECC 90 112).
Количество страниц: 24 Статус:
NF C86-254-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Статическое запоминающее устройство с оперативной записью и считыванием на интегральных микросхемах МОП. Типовая форма частных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MOS READ/WRITE STATIC MEMORIES SILICON MONOLITHIC CIRCUITS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 111).
Количество страниц: 21 Статус:
NF C86-255-1991
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов СЕNЕLЕС. Программируемые логические матрицы (ПЛМ). Типовая форма частных технических условийHARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS PROGRAMMABLE LOGIC ARRAYS (PLA). BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 114).
Количество страниц: 24 Статус:
NF C86-410-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пленочные и гибридные интегральные схемы. Общие технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 000).
Количество страниц: 91 Статус:
NF C86-411-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пленочные и гибридные интегральные схемы. Групповые технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. SECTIONAL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 100).
Количество страниц: 20 Статус:
NF C86-412-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пленочные и гибридные интегральные схемы. Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 101).
Количество страниц: 10 Статус:
NF C86-413-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пленочные и гибридные интегральные схемы. Подтверждение действиягрупповых технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. CAPABILITY APPROVAL. SECTIONAL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 200).
Количество страниц: 86 Статус:
NF C86-414-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Пленочные и гибридные интегральные схемы. Подтверждение действия типовой формы частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. CAPABILITY APPROVAL. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 201).
Количество страниц: 10 Статус:
NF C86-430-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Наборы постоянных пленочных резисторов. Общие технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FIXED FILM RESISTORS NETWORKS. GENERIC SPECIFICATION. SPECIFICATION CECC 64 000.
Количество страниц: 43 Статус:
NF C86-431-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Наборы постоянных пленочных резисторов. Групповые технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FIXED FILM RESISTORS NETWORKS. SECTIONAL SPECIFICATION. SPECIFICATION CECC 64 100.
Количество страниц: 23 Статус:
NF C86-432-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Схемы с пленочными резисторами. Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM RESISTORS NETWORKS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 64 101).
Количество страниц: 15 Статус:
NF C86-433-1988
Соогласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Наборы постоянных пленочных резисторов (условия приемки). Груповые технические условияSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM RESISTORS NETWORKS (APPROVAL PROCEDURES). SECTIONAL SPECIFICATION. SPECIFICATION CECC 64 200.
Количество страниц: 81 Статус:
NF C86-434-1988
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Схема с пленочными резисторами (соглашение "ноу-хау"). Типовая форма частных технических условийSEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM RESISTORS NETWORKS (APPROVAL PROCEDURES). (SPECIFICATION CECC 64 201).
Количество страниц: 15 Статус:
NF C86-500-1983
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Полупроводниковые оптоэлектронные и жидкокристаллические приборы. Общие технические условияHarmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification. Semiconductor optoelectronic and liquid crystal devices.
Количество страниц: 120 Статус:
NF C86-500/A1-1984
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Полупроводниковые оптоэлектронные и жидкокристаллические приборы. Общие технические условия. Изменение 1HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. GENERIC SPECIFICATION. SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONIC AND LIQUID CRYSTAL DEVICES. AMENDMENT 1
Количество страниц: 20 Статус:
NF C86-500/A2-1986
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Полупроводниковые оптоэлектронные и жидкокристаллические приборы. Общие технические условия. Изменение 2HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. GENERIC SPECIFICATION. SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONIC AND LIQUID CRYSTAL DEVICES. AMENDMENT 2
Количество страниц: 17 Статус:
NF C86-500/A3-1994
Согласованная система оценки качества электронных изделий CENELEC. Полупроводниковые оптоэлектронные и жидкокристаллические приборы. Общие технические условия. Изменение 3HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. GENERIC SPECIFICATION. SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONIC AND LIQUID CRYSTAL DEVICES. AMENDMENT 3
Количество страниц: 122 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631