Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF EN 60749-26-2006
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Количество страниц: 16 Статус:
NF EN 60749-26-2014
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Количество страниц: 56 Статус:
NF EN 60749-27-2006
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модельSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27 : electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM).
Количество страниц: 26 Статус:
NF EN 60749-30-2005
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
Количество страниц: 15 Статус:
NF EN 60749-31-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внутреннего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31 : flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced).
Количество страниц: 6 Статус:
NF EN 60749-32-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Количество страниц: 7 Статус:
NF EN 60749-32/A1-2011
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения). Изменение 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (Amendment A1)
Количество страниц: 7 Статус:
NF EN 60749-33-2005
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавыSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33 : accelerated moisture resistance - unbiased autoclave.
Количество страниц: 12 Статус:
NF EN 60749-35-2006
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Количество страниц: 22 Статус:
NF EN 60749-37-2008
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометраSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 : board level drop test method using an accelerometer.
Количество страниц: 25 Статус:
NF EN 60749-38-2008
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятьюSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 : soft error test method for semiconductor devices with memory.
Количество страниц: 17 Статус:
NF EN 60749-39-2006
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемахSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39 : measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
Количество страниц: 11 Статус:
NF EN 60749-40-2012
Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформацийSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : board level drop test method using a strain gauge
Количество страниц: 25 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631