Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF EN 60749-11-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ваннSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.
Количество страниц: 10 Статус:
NF EN 60749-15-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Количество страниц: 8 Статус:
NF EN 60749-15-2011
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Количество страниц: 11 Статус:
NF EN 60749-20-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сваркеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Количество страниц: 27 Статус:
NF EN 60749-20-2010
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сваркеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Количество страниц: 31 Статус:
NF EN 60749-20-1-2009
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при пайкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1 : handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat.
Количество страниц: 37 Статус:
NF EN 60749-24-2005
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещенияSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24 : accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
Количество страниц: 15 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631