Каталог AFNOR — национальные стандарты Франции
найдено документов: 72612 страниц: 3631
NF EN 60749-4-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 : damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
Количество страниц: 10 Статус:
NF EN 60749-5-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test.
Количество страниц: 10 Статус:
NF EN 60749-7-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
Количество страниц: 10 Статус:
NF EN 60749-7-2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Количество страниц: 13 Статус:
найдено документов: 72612 страниц: 3631