панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог JIS — национальные стандарты Японии

    我要找:

    найдено документов: 21301 страниц: 1066

    JIS K 0152-2014


    Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0153-2015

    Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
    Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0160-2009


    Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0161-2010


    Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0162-2010


    Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0163-2010


    Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0164-2010


    Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of boron in silicon
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0167-2011


    Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-1-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 1: Ammonium nitrogen
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-2-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 2: Nitrite nitrogen and nitrate nitrogen
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-3-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 3: Total nitrogen
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-4-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 4: Orthophosphate and total phosphorus
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-5-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 5: Phenol index
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-6-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 6: Fluoride
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-7-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 7: Chromium (VI)
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-8-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 8: Anionic surfactants
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0170-9-2011


    Testing methods for water quality by flow analysis - Part 9: Cyanide compounds
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0189-2013


    Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0190-2010


    Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
    Количество страниц: Статус:  

    JIS K 0211-87

    Аналитическая химия (общая часть). Технические термины
    Technical terms for analytical chemistry (General part)
    Количество страниц: Статус:  

    найдено документов: 21301 страниц: 1066


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 581
    • 582
    • 583
    • 584
    • 585
    • 586
    • 587
    • 588
    • 589
    • 590
    • 591
    • 592
    • 593
    • 594
    • 595
    • 596
    • 597
    • 598
    • 599
    • 600
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025