панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог JIS — национальные стандарты Японии

    我要找:

    найдено документов: 21301 страниц: 1066

    JIS C 5582-87

    Видеомагнитофоны на клонно-строчной записи бета-формата, использующие магнитную ленту 12,65 мм (0,5 дюйма)
    Helical-scan video tape cassette system using 12.65 mm (0.5 in) magnetic tape on type beta format
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5583-92

    Видеомагнитофоны кассетные с наклонно-строчной записью, использующие магнитную ленту шириной 8 ММ
    Helical-scan video tape cassette system using 8 mm magnetic tape - 8 mm video
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5590-88

    Соединители для цифровых сигналов (8-штыревые) телевизоров и электронного оборудования

    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5591-88

    Соединители аналоговых сигналов (21-штыревые) телевизоров и электронного оборудования
    Analog interconnection of television receivers and electronic equipments (21 pin)
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5600-77

    Электроника и дальняя связь.Основные термины и определения
    Glossary of terms used in electronics and telecommunications (Basic terms)
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5600-2006

    Словарь терминов в области электротехники
    Glossary of basic terms used in electrotechnology
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5601-75

    Электроника и телесвязь. Термины и определения
    Glossary of terms used in electronics and telecommunications (radiotelecommunications No.1)
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5602-86

    Элементы пасивные для электронного оборудования.Словарь терминов
    Glossary of passive components for electronic equipment
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5603-93

    Платы печатные. Термины и определения
    Terms and definitions for printed circuits
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5610-96

    Схемы интегральные. Термины и определения
    Glossary of terms used in integrated circuits
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5620-73

    Импульсная техника. Термины и определения

    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-1-2008

    Полупроводниковые устройства. Микромеханические устройства. Часть 1. Термины и определения
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-2-2009

    Полупроводниковые устройства. Микромеханические устройства. Часть 2. Метод испытаний на растяжения тонких пленочных материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-3-2009

    Полупроводниковые устройства. Микромеханические устройства. Часть 3. Стандартный испытательных образец тонкой пленки для испытаний на растяжение
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-6-2011

    Полупроводниковые устройства. Микромеханические устройства. Часть 6.
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-12-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12: Усталостные испытания на изгиб тонкопленочных материалов с использованием резонансных колебаний структуры микроэлектромеханических систем
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-13-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Испытание на изгиб и сдвиг для измерения адгезионной прочности структуры микроэлектромеханических систем
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-18-2014

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-19-2014

    Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses
    Количество страниц: Статус:  

    JIS C 5630-20-2015

    Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20: Gyroscopes
    Количество страниц: Статус:  

    найдено документов: 21301 страниц: 1066


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 281
    • 282
    • 283
    • 284
    • 285
    • 286
    • 287
    • 288
    • 289
    • 290
    • 291
    • 292
    • 293
    • 294
    • 295
    • 296
    • 297
    • 298
    • 299
    • 300
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025