панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог OENORM — национальные стандарты Австрии

    我要找:

    найдено документов: 38700 страниц: 1935

    OEVE/OENORM EN 60747-16-3-2003


    Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002)
    Количество страниц: 44 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60747-16-3:2009

    Приборы полупроводниковые. Часть 16-3. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Преобразователи частоты
    Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009) (german version)
    Количество страниц: 48 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60747-16-4:2005


    Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004)
    Количество страниц: 30 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60747-16-4:2011

    Приборы полупроводниковые. Часть 16-4. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Переключатели
    Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009) (german version)
    Количество страниц: 31 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60747-16-10:2005


    Semiconductor devices - Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits (IEC 60747-16-10:2004)
    Количество страниц: 56 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2-2002


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)
    Количество страниц: 74 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749+A1-2001


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000)
    Количество страниц: 59 Статус: Заменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-2000


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)
    Количество страниц: 29 Статус: Заменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-1-2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corrigendum 1:2003)
    Количество страниц: 10 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-2-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
    Количество страниц: 8 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-3-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002)
    Количество страниц: 6 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-4-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)
    Количество страниц: 10 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-5-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)
    Количество страниц: 10 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-6-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
    Количество страниц: 7 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-7-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2002)
    Количество страниц: 10 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-7:2012

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011) (german version)
    Количество страниц: 12 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-8-2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr.1:2003 + Corr.2:2003)
    Количество страниц: 16 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-9-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002)
    Количество страниц: 8 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-10-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002)
    Количество страниц: 7 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-11-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002 + Corr. 1:2003)
    Количество страниц: 10 Статус: Действует 

    найдено документов: 38700 страниц: 1935


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 1761
    • 1762
    • 1763
    • 1764
    • 1765
    • 1766
    • 1767
    • 1768
    • 1769
    • 1770
    • 1771
    • 1772
    • 1773
    • 1774
    • 1775
    • 1776
    • 1777
    • 1778
    • 1779
    • 1780
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025