Каталог OENORM — национальные стандарты Австрии
найдено документов: 38700 страниц: 1935
OEVE/OENORM EN 60749-26:2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2006)
Количество страниц: 18 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-27:2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модельSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006)
Количество страниц: 16 Статус: Отменен
OEVE/OENORM EN 60749-29:2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)
Количество страниц: 27 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-30:2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (german version)
Количество страниц: 14 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-31-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внутреннего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749- 31:2002 + Corrigendum 1:2003)
Количество страниц: 5 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-32-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (IEC 60749-32:2002 + Corrigendum 1:2003)
Количество страниц: 6 Статус: Отменен
OEVE/OENORM EN 60749-32:2011
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (IEC 60749-32:2002 + Cor. : 2003 + A1:2010) (german version)
Количество страниц: 9 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-33:2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавыSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749- 33:2004)
Количество страниц: 10 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-34:2011
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) (german version)
Количество страниц: 13 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-35:2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006)
Количество страниц: 22 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-36-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 36. Ускорение, устойчивое состояниеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003)
Количество страниц: 7 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-39:2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемахSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (IEC 60749-39:2006)
Количество страниц: 12 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-40:2012
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометраSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011) (german version)
Количество страниц: 23 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60751:2009
Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors (IEC 60751:2008)
Количество страниц: 26 Статус: Действует
найдено документов: 38700 страниц: 1935