панель навигации
  • 首页
  • 联系我们
  • Рус
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
首页
  • 首页

    • 历史
    • 领导
    • 联系我们
任务
  • 主要任务是

    • 标准化文件的官方出版、签发和分发
    • 邦信息基金技术法规还有标准的管理
    • 维修技术法规的统一信息系统
    • 开发,维护和使用全俄的技术,经济和社会信息分类
    • 与国际,区域和国家标准化组织的合作
服务
  • 技术法规,标准和认证

    • 提供标准化文件
    • 标准术语检查
信息产品
  • 信息产品

    • 俄罗斯国家技术法规
    • 国家标准化体系文件
    • CD-ROM上的书目数据库
联系我们
    1. 首页
    2. 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典

    Каталог OENORM — национальные стандарты Австрии

    我要找:

    найдено документов: 38700 страниц: 1935

    OEVE/OENORM EN 60749-12-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 60749-12:2002)
    Количество страниц: 7 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-13-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002)
    Количество страниц: 8 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-14:2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003)
    Количество страниц: 19 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-15-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2003)
    Количество страниц: 8 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-15:2011

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010) (german version)
    Количество страниц: 10 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-16-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)
    Количество страниц: 8 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-17-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003)
    Количество страниц: 7 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-18-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002)
    Количество страниц: 16 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-19-2003


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003)
    Количество страниц: 7 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-19:2011

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010) (german version)
    Количество страниц: 9 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-20-2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2002 + Corrigendum 1:2003)
    Количество страниц: 25 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-20:2010

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008) (german version)
    Количество страниц: 29 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-20-1:2009

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20-1:2009) (german version)
    Количество страниц: 36 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-21:2005


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (IEC 60749-21:2004)
    Количество страниц: 21 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-21:2012


    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (IEC 60749-21:2011) (german version)
    Количество страниц: 23 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-22-2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength (IEC 60749-22:2002 + Corrigendum 1:2003)
    Количество страниц: 20 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-23:2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
    Количество страниц: 11 Статус: Отменен 

    OEVE/OENORM EN 60749-23:2011

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (german version)
    Количество страниц: 12 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-24:2004

    Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание(HAST) без смещения
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
    Количество страниц: 11 Статус: Действует 

    OEVE/OENORM EN 60749-25:2004

    Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры
    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749- 25:2003)
    Количество страниц: 15 Статус: Действует 

    найдено документов: 38700 страниц: 1935


    • « Первая
    • ‹ предыдущая
    • ...
    • 1761
    • 1762
    • 1763
    • 1764
    • 1765
    • 1766
    • 1767
    • 1768
    • 1769
    • 1770
    • 1771
    • 1772
    • 1773
    • 1774
    • 1775
    • 1776
    • 1777
    • 1778
    • 1779
    • 1780
    • ...
    • следующая ›
    • последняя »
    • 目录标准,全俄罗斯分类,术语词典
      • 目录“标准”
      • P,PR,PD-标准化规则,标准化领域规范和建议
      • 俄罗斯分类
      • CD-ROM 上P,PR,RD的 全文数据库
      • 词汇表
    нижний колонтитул
    Росстандарт
    • vk

     

    support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025